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當(dāng)前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 電子電工儀器 > 接地電阻測試儀 > F1535/F15372500V絕緣電阻測試儀Fluke1535/1537
簡要描述：2500V絕緣電阻測試儀Fluke1535/1537 功能如下：絕緣測量量程高達(dá)500GΩ；具備快速測量設(shè)計，絕緣阻值會較快達(dá)到穩(wěn)定讀數(shù)，工作快人*！具備自動計算的極化指數(shù)（PI）/介電吸收比（DAR）功能/介質(zhì)放電率（DD）功能**低功耗設(shè)計滿足高強(qiáng)度工作需求：2500V測量次數(shù)高達(dá)1300次，250V測量可達(dá)6500次*；
產(chǎn)品型號：F1535/F1537
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
更新時間：2024-08-21
訪 問 量：2246
產(chǎn)品分類
詳細(xì)介紹
2500V絕緣電阻測試儀Fluke1535/1537 主要特性
Fluke1535功能如下：
絕緣測量量程高達(dá)500GΩ；
具備快速測量設(shè)計，絕緣阻值會較快達(dá)到穩(wěn)定讀數(shù)，工作快人*！
具備自動計算的極化指數(shù)（PI）/介電吸收比（DAR）功能/介質(zhì)放電率（DD）功能**
低功耗設(shè)計滿足高強(qiáng)度工作需求：2500V測量次數(shù)高達(dá)1300次，250V測量可達(dá)6500次*；
具備高安全性設(shè)計，具有危險電壓報警功能，符合CAT IV 600V標(biāo)準(zhǔn)及電力行業(yè)規(guī)范DLT845；
全新高可靠性設(shè)計，包括50°C高溫和80%濕度環(huán)境下，依舊保持對應(yīng)的電氣規(guī)格，表筆及對應(yīng)端口通過30000次插拔實驗。
*基于Fluke內(nèi)部實驗室測量
Fluke1537除具備上述特點(diǎn)外，還具有以下功能：
交流電壓/直流電壓/電阻測量
可微調(diào)的測試電壓：250 V至2500 V，調(diào)節(jié)幅度為100 V
介質(zhì)放電(DD)
線性增加(100 V/s)應(yīng)用測試電壓的步進(jìn)模式
用戶自定義標(biāo)簽，*測試，測量結(jié)果保存
擊穿電壓指示
用于下載測試數(shù)據(jù)的Mini USB接口
PC軟件
2500V絕緣電阻測試儀Fluke1535/1537 產(chǎn)品規(guī)格:
通用技術(shù)指標(biāo) | |
顯示屏 | 73.5 mm x 104 mm |
電池 | 8節(jié)IEC LR6 AA堿性電池 |
外形尺寸（高x寬x長） | 184x211x93(mm) |
重量 | 1.3 kg |
溫度 |
|
工作溫度 | -10 °C至+50 °C |
存放溫度 | -20 °C至+60 °C |
工作濕度 | 無冷凝（<10 °C） |
| ≤80 %相對濕度（10 °C至30 °C） |
| ≤50 %相對濕度（30 °C至50 °C） |
海拔 |
|
工作海拔 | 2000 m |
存放海拔 | 12000 m |
過電壓類別 | CAT IV 600 V |
安全性 |
|
通用 | IEC 61010-1，污染等級2 |
| IEC 61010-2-033：CAT IV 600 V |
| IEC 61557-1 |
絕緣電阻測量 | IEC 61557-2 |
保護(hù)措施有效性 | IEC 61557-16 |
防護(hù)(IP)等級 | IEC 60529 IP40 |
電磁兼容性(EMC) |
|
IEC 61326-1：便攜式電磁環(huán)境 | |
| IEC 61326-2-2 CISPR 11：第1組，A類 |
第1組：設(shè)備內(nèi)部產(chǎn)生和/或使用與傳導(dǎo)相關(guān)的無線電頻率能量，該能量對于設(shè)備自身的內(nèi)部功能*。
A類：設(shè)備適用于非家庭使用以及未直接連接到為住宅建筑物供電的低電壓網(wǎng)絡(luò)的任意設(shè)備中。由于傳導(dǎo)干擾和輻射干擾，在其他環(huán)境中可能難以保證電磁兼容性。
小心：此設(shè)備不可用于住宅環(huán)境，且在此類環(huán)境中可能無法提供充分的無線電接收保護(hù)。
電氣技術(shù)指標(biāo) | |||
測試儀經(jīng)校準(zhǔn)后在10 °C至30 °C的工作溫度條件下其度可以維持1年。在工作溫度范圍以外（-10 °C至+10°C和+30 °C至+50 °C），波動變化為5 %時每攝氏度增加±0.25 %，波動變化為20 %時每攝氏度增加±1 %。 | |||
絕緣電阻測試 | |||
測試電壓 | 量程 | 分辨率 | 準(zhǔn)確度 |
250 V | <200 kΩ | 未 | 未 |
200 kΩ至500 kΩ | 1 kΩ | 0.05 | |
0.50 MΩ至5.00 MΩ | 10 kΩ | 0.05 | |
5.0 MΩ至50.0 MΩ | 100 kΩ | 0.05 | |
50 MΩ至500 MΩ | 1 MΩ | 0.05 | |
0.50 GΩ至5.00 GΩ | 10 MΩ | 0.05 | |
5.0 GΩ至50.0 GΩ | 500 MΩ | 0.2 | |
>50 GΩ | 未 | 未 | |
500 V | <200 kΩ | 未 | 未 |
200 kΩ至500 kΩ | 1 kΩ | 0.05 | |
0.50 MΩ至5.00 MΩ | 10 kΩ | 0.05 | |
5.0 MΩ至50.0 MΩ | 100 kΩ | 0.05 | |
50 MΩ至500 MΩ | 1 MΩ | 0.05 | |
0.50 GΩ至5.00 GΩ | 10 MΩ | 0.05 | |
5.0 GΩ至10.0 GΩ | 100 MΩ | 0.05 | |
10.0 GΩ至50.0 GΩ | 500 MΩ | 0.2 | |
50 GΩ至100 GΩ | 5 GΩ | 0.2 | |
>100 GΩ | 未 | 未 | |
1000 V | <200 kΩ | 未 | 未 |
200 kΩ至500 kΩ | 1 kΩ | 0.05 | |
0.50 MΩ至5.00 MΩ | 10 kΩ | 0.05 | |
5.0 MΩ至50.0 MΩ | 100 kΩ | 0.05 | |
50 MΩ至500 MΩ | 1 MΩ | 0.05 | |
0.50 GΩ至5.00 GΩ | 10 MΩ | 0.05 | |
5.0 GΩ至20.0 GΩ | 100 MΩ | 0.05 | |
20.0 GΩ至50.0 GΩ | 500 MΩ | 0.2 | |
50 GΩ至200 GΩ | 5 GΩ | 0.2 | |
>200 GΩ | 未 | 未 | |
2500 V | <200 kΩ | 未 | 未 |
200 kΩ至500 kΩ | 1 kΩ | 0.05 | |
0.50 MΩ至5.00 MΩ | 10 kΩ | 0.05 | |
5.0 MΩ至50.0 MΩ | 100 kΩ | 0.05 | |
50 MΩ至500 MΩ | 1 MΩ | 0.05 | |
0.50 GΩ至5.00 GΩ | 10 MΩ | 0.05 | |
5.0 GΩ至50.0 GΩ | 100 MΩ | 0.05 | |
50 GΩ至500 GΩ | 5 GΩ | 0.2 | |
>500 GΩ | 未 | 未 | |
長條圖量程：0 Ω至500GΩ絕緣測試電壓度：-0 %，在1 mA電流時為+10 %電容載荷充電率：5 s/μF電容載荷放電率：1.5 s/μF
標(biāo)準(zhǔn)配置：
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